一文讀懂超聲電聲法Zeta電位儀
更新時間:2022-05-07 點擊次數:1141
超聲電聲法Zeta電位儀是納米材料的一種重要表征參數。現代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為:通過電化學原理將Zeta電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量,而粒子淌度的測量測是通過動態光散射,運用波的多普勒效應測得。粒子表麵存在的淨電荷影響粒子界麵周圍區域的離子分布,導致接近表麵抗衡離子(與粒子電荷相反的離子)濃度增加。
於是,每個粒子周圍均存在雙電層。圍繞粒子的液體層存在兩部分:一是內層區,稱為Stern層,其中離子與粒子緊緊地結合在一起;另一個是外層分散區,其中離子不那麽緊密的與粒子相吸附。在分散層內,有一個抽象邊界,在邊界內的離子和粒子形成穩定實體。當粒子運動時(如由於重力),在此邊界內的離子隨著粒子運動,但此邊界外的離子不隨著粒子運動。這個邊界稱為流體力學剪切層或滑動麵(slippingplane)。在這個邊界上存在的電位即稱為Zeta電位。
超聲電聲法Zeta電位儀的粒度測量方法:
(1)晶粒:指單晶顆粒,即顆粒內為單相,無晶界。
(2)一次顆粒:指含有低孔隙率的一種獨立的粒子。它能被電子顯微鏡觀察到。
(3)團聚體:是由一次顆粒為降低表麵勢能而通過範德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團聚體內含有相互連接的孔隙網絡,它能被電子顯微鏡觀察到。
(4)二次顆粒:指人為製造的粉料團聚粒子。如陶瓷工藝中的“造粒”。目前所謂“納米材料”的功能絕大多數體現為團聚體的功能,若能將團聚體分散成一次顆粒,則將表現出納米顆粒更多的特性。